1、按测量手段分类,测量方法分为哪三种直接测量、间接测量和组合测量
直接测量是将被测量与与标准量进行比较,得到测量结果.
间接测量是测得与被测量有一定函数关系的量,然后运用函数求得被测量.
组合测量是对若干同名被测量的不同组合形式分别测量,然后用最小二乘法解方程组,求得被测量
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2、测量距离常用的三种方法是___、___和___.测量距离常用的三种方法是工具测量 , 步测,目测.
故答案为:工具测量,步测 , 目测.
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3、测量距离常用的三种方法是 ___ 、 ___ 和 ___ .分析:测量距离常用的三种方法是工具测量,一般为用刻度尺测量;步测 , 即先大约估计一步有多长,再量出有多少步,从而得出距离;目测,即通过眼睛结合实际经验估计出距离.测量距离常用的三种方法是工具测量,步测,目测.故答案为:工具测量,步测,目测.点评:本题主要考查距离的测量方法,教材中并没有直接告诉,而是在习题中进行了多种方法的渗透.
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4、测量方法有哪些?1、按是否直接测量被测参数,可分为直接测量和间接测量 。
直接测量:直接测量被测参数来获得被测尺寸 。例如用卡尺、比较仪测量 。
间接测量:测量与被测尺寸有关的几何参数,经过计算获得被测尺寸 。
2、按量具量仪的读数值是否直接表示被测尺寸的数值,可分为绝对测量和相对测量 。
绝对测量:读数值直接表示被测尺寸的大小、如用游标卡尺测量 。
相对测量:读数值只表示被测尺寸相对于标准量的偏差 。
3、按被测表面与量具量仪的测量头是否接触,分为接触测量和非接触测量 。
接触测量:测量头与被接触表面接触,并有机械作用的测量力存在 。如用千分尺测量零件 。
非接触测量:测量头不与被测零件表面相接触 , 非接触测量可避免测量力对测量结果的影响 。如利用投影法、光波干涉法测量等 。
4、按一次测量参数的多少,分为单项测量和综合测量 。
单项测量;对被测零件的每个参数分别单独测量 。
综合测量:测量反映零件有关参数的综合指标 。如用工具显微镜测量螺纹时,可分别测量出螺纹实际中径、牙型半角误差和螺距累积误差等 。
5、按测量在加工过程中所起的作用,分为主动测量和被动测量 。
主动测量:工件在加工过程中进行测量,其结果直接用来控制零件的加工过程,从而及时防治废品的产生 。
被动测量:工件加工后进行的测量 。此种测量只能判别加工件是否合格,仅限于发现并剔除废品 。
6、按被测零件在测量过程中所处的状态 , 分为静态测量和动态测量 。
静态测量;测量相对静止 。如千分尺测量直径 。
动态测量;测量时被测表面与测量头模拟工作状态中作相对运动 。
水准测量原理
从验潮站的高程零点 , 用水准测量的方法测定设立于验潮站附近由国家设计里的水准原点的高程,作为全国高程控制网的起点 。我国水准原点设立在山东青岛市 。从国家水准原点出发,用一、二、三、四等水准测量测定布设在全国范围内的各等水准点 。
一、二等水准测量称为精密水准测量 , 为全国高程控制网的骨干,三、四等水准网遍布全国各地,以上总称为国家水准点 。在国家水准点的基础的上,为每项工程建设而进行工程水准测量或为地形图测绘而进行图根水准测量 , 同城为普通水准测量 。
水准测量的原理是利用水准仪提供的水平视线,在竖立在欲测定高差的两点上的水准尺上读数 , 根据读数计算高差 。
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5、测量方法的分类?1.直接测量和间接测量
按实测几何量是否为欲测几何量,可分为直接测量和间接测量 。
1)直接测量
直接测量是指直接从计量器具获得被测量的量值的测量方法 。如用游标卡尺、千分尺 。
(2)间接测量
间接测量是测得与被测量有一定函数关系的量,然后通过函数关系求得被测量值 。如测量大尺寸圆柱形零件直径D时,先测出其周长L,然后再按公式D/求得零件的直径D,如图2-4所示 。
2.绝对测量和相对测量
按示值是否为被测量的量值,可分为绝对测量和相对测量 。
(1)绝对测量绝对测量是指被计量器具显示或指示的示值即是被测几何量的量值 。如用测长仪测量零件,其尺寸由刻度尺直接读出 。
(2)相对测量相对测量也称比较测量,是指计量器具显示或指示绫徊饧负瘟肯喽杂谝阎标准量的偏差,测量结果为已知标准量与该偏差值的代数和 。
一般来说,相对测量的测量精度比绝对测量的要高 。
3.接触测量和非接触测量
按测量时被测表面与计量器具的测头是否接触,可分为接触测量和非接触测量
(1)接触测量接触测量是指计量器具在测量时,其测头与被测表面直接接触的测量 。如用卡尺、千分尺测量公交 。
(2)非接触测量非接触测量是指计量器具在测量是 , 其测头与被测表面不接触的测量 。如用气动量仪测量孔径和用显微镜测量工件的表面粗糙度 。
扩展资料:
从这个定义,我们就可以看出经典物理的基本假设:
1.时间是绝对的 , 其含义是时间流逝的速率与空间位置和物体的速率无关;
2.空间是欧几里德的,也就是说欧几里德几何的假设和定律对空间是成立的;
3.经典物理的第三个假设,就是质点的运动可以用位置作为时间的函数来描述 。
根据爱因斯坦的相对论,时间是相对的,空间也不是欧几里德的 , 但是绝对时间和欧几里德空间对低速运动(相对于光速)和宏观世界是一个很好的近似,在相当高的精度上是正确的 。因此在经典物理中使用这样的假设是合理的 。
根据第三个假设,如果我们知道质点的位置作为时间的函数 , 而且我们知道了质点的质量,那么我们就知道了所能知道的关于这个质点的一切知识,由此可见,经典物理的任务就是找出质点的位置随时间变化的函数 。
参考资料:百度百科――测量方法
从不同观点出发 , 可以将测量方法进行不同的分类,常见的方法有:
1、直接测量、间接测量和组合测量
直接测量是将被测量与与标准量进行比较,得到测量结果 。
间接测量是测得与被测量有一定函数关系的量,然后运用函数求得被测量 。
组合测量是对若干同名被测量的不同组合形式分别测量,然后用最小二乘法解方程组,求得被测量 。
2、绝对测量、相对测量
绝对测量是所用量器上的示值直接表示被测量大小的测量 。
相对测量是将被测量同与它只有微小差别的同类标准量进行比较,测出两个量值之差的测量法 。
3、接触测量、非接触测量
这是从对被测物体的瞄准方式不同加以区分的 。接触测量的敏感元件在一定测量力的作用下 , 与被测物体直接接触,而非接触测量敏感元件与被测对象不发生机械接触 。
4、单项测量与综合测量
单项测量是对多参数的被测物体的各项参数分别测量,综合测量是对被测物体的综合参数进行测量 。
5、自动测量和非自动测量
自动测量是指测量过程按测量者所规定的程序自动或半自动地完成 。非自动测量又叫手工测量 , 是在测量者直接操作下完成的 。
6、静态测量和动态测量
静态测量是对在一段时间间隔内其量值可认为不变的被测量的测量 。动态测量是为确定随时间变化的被测量瞬时值而进行的测量 。
7、主动测量与被动测量
在产品制造过程中的测量是主动测量,它可以根据测量结果控制加工过程,以保证产品质量,预防废品产生 。
被动测量是在产品制造完成后的测量,它不能预防废品产生 , 只能发现边挑出废品 。
1、直接测量、间接测量和组合测量
2、绝对测量、相对测量
第一种:直接测量法就是测量时直接将被测量与同类标准量进行比较或从测量仪器上读取被测量数值.
第二种:间接测量法
间接测量法就是在被测量不能直接测量时,先直接测量与被测量有一定关系的物理量,再计算出被测量的数值.
用电流表测量电流是直接测量法,用电桥测量电阻是间接测量法.答案补充 (1)直读法 用直接指示被测量大小的指示仪表进行测量,能够直接从仪表刻度盘上读取被测量数值的测量方法,称为直读法.直读法测量时,度量器不直接参与测量过程,而是间接地参与测量过程.(2)\x05比较法 将被测量与度量器在比较仪器中直接比较,从而获得被测量数值的方法称为比较法.例如,用天平测量物体质量时,作为质量度量器的砝码始终都直接参与了测量过程.
根据被测量与度量器进行比较时的不同特点又可将比较法分为零值法、较差法和替代法三种.
(1)零值法又称平衡法,它是利用被测量对仪器的作用,与标准量对仪器的作用相互抵消,由指零仪表做出判断的方法.
(2)较差法是通过测量被测量与标准量的差值,或正比于该差值的量,根据标准量来确定被测量的数值的方法.
(3)替代法是分别把被测量和标准量接入同一测量仪器,在标准量替代被测量时,调节标准量,使仪器的工作状态在替代前后保持一致,然后根据标准量来确定被测量的数值.
第四章→4.1.3 测量方法的分类
第1节 概述
三、测量方法的分类
分类依据 测量方法 意义
获得测量结果的方式 直接测量被测量值直接由量仪指示数值获得
间接测量测出与被测量有关的一些尺寸后,通过计算获得被测量值
比较方式 绝对测量被测量值直接由量仪刻度尺上读数表示
相对测量由量仪读出的是被测的量相对于标准量值的差值
接触形式 接触测量量具或量议的测量头与被测表面直接接触
非接触测量量具或量议的测量头不与被测表面接触
同时测量参数的数目 综合测量被测件相关的各个参数合成一个综合参数来进行测量
单项测量被测件的各个参数分别单独测量
测量对工艺过程所起的作用 主动测量加工过程中进行测量,测量结果直接用来控制工件的加工精度
被动测量加工完毕后后进行测量 , 以确定工件的参数值
测量时工件的运动情况 静态测量测量时被测件静止不动
动态测量测量时 , 被测件不停地运动,测量头与被测件有相对运动
【常用的测量方法三种,按测量手段分类,测量方法分为哪三种】定类层次、定序层次、定距层次和定比层次是社会测量中最常见的四种类型 。
定类层次、定序层次、定距层次和定比层次是社会测量中最常见的四种类型 。
它们之间存在着不可分割的联系 。第一,从定类、定序、定距到定比,层次依次上升,水平也不断提高;第二,每高一层次的测量类型都以较低层次测量类型为基础 。所以,每高一层次的测量,它都包含低层次测量类型的全部特征 。